金相显微镜和涡流涂层测厚仪区别

金相显微镜测厚仪和涡流涂层测厚仪的本质都是测量涂层厚度，那么他们两者有什么区别了？

金相显微镜测厚仪

它所测量的是局部厚度，同时它是一种有损测量方法，试验采用金相显微镜直接观察试样横断面的厚度，因此它要求试样能够清晰、真实地显现出阳极氧化膜。这就对试样的制备提出了很高的要求，需要对试样进行适当的研磨、抛光和浸蚀处理。

影响精准度的因素存在有，比如表面粗糙度、横断面的斜度、覆盖层变形以及机械加工不好等，都会导致测量结果的偏差。对于待测试样，其横断面必须垂直于待测处理膜，当垂直度偏差10°，则测量值比真实厚度大1.5%。另外，显微镜的选择和操作不当也会影响测量的精度，对于载物台测微计的目镜测微计在使用前都必须标定，而仪器的放大倍数也必须选择合理，对于待测膜厚，其测量误差一般是随放大倍数减小而增大，一般选择放大倍数应使视场直径为膜厚的1.5~3倍。

采用金相显微镜测量处理膜的厚度，对其精度应该有要求，对于显微镜及其附件的使用和校准，以及横断面的制备方法都应加以选择，使待测膜厚的误差在1μm或真实厚度的10%中较大的一个值之内。在良好的条件下，使用一台金相显微镜，本试验能得到0.8μm的绝对测量精度，当厚度大于25μm时，合理的误差均为5%或者更小。

涡流涂层测厚仪

仪器原理是通过传导高频交流（1MHz以上）的细线线圈在仪器探针的表面产生交变磁场。当探针靠近导电表面时，交变磁场将在该表面上形成涡流。基体材料的特性以及探头和基体的距离（也即是涂层厚度）会影响涡流的大小。

该涡流又会产生一种相对电磁场，该电磁场可由励磁线圈或另一个相邻的线圈感测出来。涡流测厚仪外观以及操作均类似于电磁感应测厚仪。这类仪器几乎能够测量所有非铁金属上的涂层厚度。具有精准、快速、无损测量等优势，常用于航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆，塑料涂层及阳极氧化膜。

总结：

金相显微镜测厚仪和涡流涂层测厚仪的区别在于：

金相测厚仪需要切割，属于有损测厚，操作较为繁琐，仪器不便携带，对涂层基体无要求。

涡流涂层测厚仪无损测量、测量速度快、便于携带、只能测量非铁金属上的涂层。