涡流涂层测厚仪如何测量氧化膜和涂层

涡流法它具有快速、方便、非破坏性的测量出氧化膜层和涂层的厚度。因此特别适用于在生产现场、销售现场或施工现场对产品进行快速无损的膜厚检查，是当前生产线质量控制方面应用最广的方法。但由于存在着固有的测量误差，因此一般不适用于测量薄的转化膜。

涡流测厚仪是利用涡电流原理进行测量的，要求基体金属为非磁性且表面膜层不导电。当测头与试样接触时，测头产生的高频电流磁场，在基体金属中会感应出涡电流，此涡流电产生的附加电磁场会改变测头参数，而测头参数的改变则取决于与氧化膜或涂层厚度相关的测头到基体之间的距离，涡流测厚仪通过对测头参数改变量的测量，经过计算机分析处理，便可得到氧化膜或涂层的厚度值。

影响涡流涂层测厚仪精准度的因素

尽量减少或避免各种影响测量精度的因素。采用涡流测厚仪测量膜厚，一般有以下影响测量精度的因素：待测的覆盖层厚度、基体金属电性质、基体金属厚度、边缘效应、试样的曲率、试样表面的粗糙度、试样表面的附着物质、测厚仪的测头压力、涡流测厚仪测头的放置、试样的变形、环境温度等。

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图为：AG真人官网一体式涡流涂层测厚仪

为了保证测量精度，每台仪器在测量前都应进行校准，不知道怎么校准的朋友可以点击查看：。当基体材料的合金成分改变、试样形状改变及使用了较长时间等情况下建议进行再次校准，校准一般都采用没有涂层的基体试样进行零点校准和采用已知精确厚度值的校准标准片进行两点或多点校准，当采用的校准标准片为标准箔时，必须确保校准箔与基体紧密接触，避免使用有弹性的箱，以防止产生测量误差。

在进行测量操作时，应将探头平稳、垂直地置于清洁、干燥的待测试样上，测头置于试样上所施加的压力要保持恒定。通常由于仪器的每次读数并不完全相同，因此必须在任一测量面积内进行多次测量，并取其平均值。